如何检验连接器的接触电阻

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　　连接器的接触电阻由以下几个部分组成：
　　
　　1、集中电阻
　　prominent电流通过实际接触面时，由于电流线收缩（或称集中）显示进去的电阻。将其称为集中电阻或收缩电阻。
　　2、膜层电阻
　　由于接触外表膜层及其他污染物所构成的膜层电阻。从接触外表状态分析；外表污染膜可分为较坚实的薄膜层和较松散的杂质污染层。故确切地说，也可把膜层电阻称为界面电阻。
　　3、导体电阻
　　实际丈量电连接器接触件的接触电阻时，都是接点引出端进行的故实际测得的接触电阻还包括接触外表以外接触件和引出导线自身的导体电阻。honeywell导体电阻主要取决于金属资料自身的导电性能，与周围环境温度的关系可用温度系数来表征。
　　实际丈量接触电阻时，omron常使用按开尔文电桥四端子法原理设计的接触电阻测试仪（毫欧计）其专用夹具夹在被测接触件端接部位两端，故实际测量的总接触电阻R由三部分组成
　　接触电阻检验目的确定电流流经接触件的接触外表的电触点时产生的电阻。如果有大电流通过高阻触点时，就可能发生过分的能量消耗，并使触点产生危险的过热现象。很多应用中要求接触电阻低且稳定，以使触点上的电压降不致影响电路状况的精度。
　　丈量接触电阻除用毫欧计外,也可用伏-安计法,安培-电位计法。